Desarrollan un nuevo método para obtener información más precisa de materiales cristalinos mediante difracción

27/abr/2012 | OTRIcompartir noticiaimprimir

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El grupo TEP-120, dentro de un Proyecto de Excelencia que dirige el profesor Fco. Miguel Morales Sánchez, trabaja ya en la elaboración de un software que permita la comercialización y distribución de esta técnica

Los dos responsables de esta patente, el estudiante de doctorado de nacionalidad hindú, Daniel Carvalho, y su supervisor, el profesor Francisco M. Morales.

Los dos responsables de esta patente, el estudiante de doctorado de nacionalidad hindú, Daniel Carvalho, y su supervisor, el profesor Francisco M. Morales.

Investigadores del grupo “Ciencia e Ingeniería de los Materiales” de la Facultad de Ciencias de la UCA han desarrollado un nuevo procedimiento para medir parámetros reticulares de materiales cristalinos -aquellos que conforman la mayoría de los semiconductores y metales, y muchas de las cerámicas avanzadas, usados en aplicaciones de ingeniería- con alta precisión a partir del análisis de diagramas de difracción de electrones (técnica utilizada para estudiar la materia haciendo que haces de electrones acelerados por voltajes descomunales incidan sobre una muestra sólida y muy delgada, y observando el patrón de interferencias de ondas resultante).

Para entender mejor esta invención es importante tener en consideración que este método servirá para extraer información muy certera, tras analizar la distancias entre sus átomos, de las estructuras y de las composiciones de los materiales cristalinos a escala sub-nanométrica, ya que estos investigadores trabajan principalmente a niveles de resolución de picómetros, la billonésima parte de un metro, algo que “es crucial para lograr una mejora en el diseño y posible uso de los materiales en sistemas estructurales y funcionales en aplicaciones tales como la nanoelectrónica y las telecomunciaciones del futuro”, tal y como explican los dos responsables de esta patente, el estudiante de doctorado de nacionalidad hindú, Daniel Carvalho, y su supervisor, el profesor Francisco M. Morales.

“Este tipo de metodología también permite caracterizar aspectos de los materiales como la presencia de defectos en las estructuras, las fases cristalográficas desarrolladas, la distribución de los elementos químicos involucrados, la morfología de los subsistemas que lo componen, las tensiones internas y sus posibles deformaciones, las transiciones entre estados energéticos, etc.; todo ello a escalas del orden de las longitudes de los enlaces atómicos, sin olvidar que nos ayuda a poder relacionar estos parámetros con sus propiedades físicas”, como indican desde el grupo de excelencia TEP-120 de la Junta de Andalucía.

Hay que destacar que hasta la fecha se habían desarrollado algunas técnicas de análisis para el mismo fin propuesto en la patente, pero son, la capacidad de extraer información con alta rapidez de adquisición y análisis, de forma barata, e incluso de zonas muy localizadas, “las que dotan de novedad, solvencia y potencialidad a este método de la difracción de electrones en modo TEM (transmission electron microscopy) desarrollado con la ayuda de los microscopios electrónicos de transmisión de última generación con los que cuenta nuestra Universidad”, en palabras del Dr. Morales.

Otros materiales nuevos

Asimismo, se debe pensar en el hecho de que “existen sólidos como el oro o el silicio que ya se han estudiado muchísimo y de los que sabemos las distancias entre sus átomos con las altas precisiones buscadas; pero continuamente se desarrollan otros nuevos materiales, dispuestos cada vez incluso con tamaños más pequeños, como las nano-estructuras (dimensiones en la millonésima parte del milímetro), de los que todavía no se conocen estas distancias reticulares con las bajas incertidumbres requeridas, y aquí es donde entran en juego sin duda las ventajas que proporcionan nuestro método”.

Tanto el profesor Morales como Daniel Carvalho, coautores de esta patente surgida en el contexto del proyecto de fin de máster de éste último, trabajan ya en el desarrollo de un software que ayude a la comercialización y distribución de este procedimiento, una herramienta susceptible de aplicación industrial. De hecho, la prestigiosa revista Microscopy and Microanalysis “acaba de publicar un artículo en el que describimos este nuevo método acuñado con el nombre de HRED (high-resolution electron dfiffraction)”. El objetivo futuro de estos investigadores es seguir desarrollando nuevas técnicas y metodologías relacionadas con la difracción de electrones en colaboración con la profesora Teresa Ben Fernández, la otra codirectora de tesis de Carvalho. Se busca contribuir de forma importante en el ámbito del desarrollo de nuevos materiales cristalinos a distintas escalas (macro-micro-nano-pico).

El grupo TEP-120: “Ciencia e Ingeniería de los Materiales” de la UCA, que dirige el Catedrático de Universidad Rafael García Roja, se ha convertido en un referente nacional, y ha adquirido gran prestigio internacional, debido a la labor desarrollada por sus investigadores desde finales de los años 80, un trabajo que les ha llevado a dominar y desarrollar diversas técnicas para la resolución de problemas científicos y tecnológicos implicados en electrónica, opto-electrónica, fotónica y fotovoltaica; de ahí que hayan decidido asumir uno de los retos más relevantes en la ciencia e ingeniería de materiales actual: resolver estructuras cristalinas con mayor rapidez y más precisión, en combinación con un muy importante requisito de la investigación actual, que se haga a bajo coste.

temas» materiales cristalinos difracción software microscopía electrónica

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